1、獨(dú)有的永不間斷電接觸設(shè)計(jì)：行程超過(guò)或不足2/3其電性接觸皆能保持性低阻值，徹底消除任何因探針導(dǎo)致的假性開(kāi)路誤叛。
2、增強(qiáng)耐用度：測(cè)試針設(shè)計(jì)使彈簧空間比傳統(tǒng)探針要大，因而可以達(dá)到更長(zhǎng)的壽命和容納更強(qiáng)的彈力。
3、目標(biāo)測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度誤差更嚴(yán)謹(jǐn)：測(cè)試針能達(dá)到同類型產(chǎn)品無(wú)法比擬的至目標(biāo)測(cè)點(diǎn)精準(zhǔn)度。測(cè)試針因?yàn)楦泳?xì)，通常直徑都是0.58mm以下，總長(zhǎng)不超過(guò)6毫米，所以能夠達(dá)到同規(guī)格產(chǎn)品更好的精準(zhǔn)度。冶具通用性高，只需更換顆粒限位框，即可測(cè)試尺寸不同的顆粒；采用超短進(jìn)口雙頭探針設(shè)計(jì)，相比同類測(cè)試產(chǎn)品，可使IC和PCB之間的數(shù)據(jù)傳輸距離更短，從而保證測(cè)試結(jié)果更穩(wěn)定，頻率更高，DDR3系列最高頻率可達(dá)2000MHz。
以上3點(diǎn)就是測(cè)試治具測(cè)試針的功效，所以它也是測(cè)試質(zhì)量的重要因素，如果有需要購(gòu)買測(cè)試的朋友可以聯(lián)系我們。
